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用电气和量热法测试1200V 三社碳化硅模块的高频应用的软开关损耗
用电气和量热法测试1200V 三社碳化硅模块的高频应用的软开关损耗
来源:
Norwegian University of Science and Technology
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作者:
J. K. Langelid
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发布时间:
2021-12-28
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2610
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